金相學(xué)主要是指利用光學(xué)(金相)顯微鏡和體視顯微鏡對材料的微觀組織、宏觀結(jié)構(gòu)和斷口結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析和表征的材料科學(xué)分支，不僅包括材料微觀組織的成像和定性定量表征，還包括必要的樣品制備、制備和取樣方法。它主要反映和表征材料的相和顯微組織成分、晶粒(包括可能的亞晶)、非金屬夾雜物甚至某些晶體缺陷(如位錯)的數(shù)量、形貌、尺寸、分布、取向、空間排列等。

　　ECLIPSE LV系列經(jīng)過不斷開發(fā)和改進(jìn)，配備了新的光學(xué)系統(tǒng)和功能。根據(jù)觀測方法和目的，可以選擇支撐裝置和照明裝置，以滿足各種觀測需要。用戶可以選擇使用電動和手動控制模式，以及反射照明模式和反射/透射組合照明模式，以滿足任何應(yīng)用要求。

　　金相顯微鏡系統(tǒng)是傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡與計(jì)算機(jī)(數(shù)碼相機(jī))通過光電轉(zhuǎn)換的有機(jī)結(jié)合，不僅可以在目鏡上進(jìn)行顯微觀察，還可以在計(jì)算機(jī)(數(shù)碼相機(jī))顯示屏上觀察實(shí)時動態(tài)圖像?；谟?jì)算機(jī)的金相顯微鏡還可以編輯、保存和打印所需的圖片。

　　CFI60-2觀察方法

　　它可以支持多種觀察方法:明場、暗場、偏振、差分干涉、出射熒光和雙光束干涉測量。