涂層厚度的測量方法主要有:楔形切割法、光切法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁性測量法和渦流測量法。這些方法的前五種都是破壞性檢測，比較繁瑣，速度慢，大多適合抽樣檢驗。

　　Ux-720精密涂層分析儀X射線熒光光譜儀是專門為金屬合金、鋁型材、塑料等材料的涂層分析和達克羅涂層分析而設計的普及型機型，為三重射線保護系統。人性化的操作界面；華為VisualFp基本參數法分析軟件可用于盲測(即無需標樣校準)，以測試客戶樣品的涂層厚度和分析基材成分，降低客戶購買標樣(特別是特殊樣品)的成本。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜的工廠對涂布、鍍膜的過程控制。

　　Ux-720檢測系統

　　功能:檢測樣品的特征X射線，對采集的信號進行處理，并將處理結果傳送給計算機。

　　型號:Si-PIN X-123(美國進口)

　　是窗戶嗎？？？:1毫米(0.0254毫米)

　　分辨率:145±5eV

　　系統峰背比:≥ 6200/1

　　能量響應范圍:1千電子伏-40千電子伏

　　推薦計數率:5000cps

　　Ux-720高效立體散熱系統大大提高了儀器的可靠性和穩(wěn)定性。三重射線保護系統(軟件、硬件、迷宮式設計)，開啟測試自動報警系統。