x射線和β射線法為非接觸式無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍小。x射線法可以測(cè)量極薄的涂層、雙層涂層和合金涂層。β射線法適用于原子序數(shù)大于3的涂層和鍍層的測(cè)量。電容法僅在測(cè)量薄導(dǎo)體的絕緣涂層厚度時(shí)使用。

　　Ux-720儀器標(biāo)配設(shè)備參數(shù)。

　　1.計(jì)算機(jī)

　　CPU:英特爾雙核內(nèi)存:2G

　　硬盤:500G顯示器:19英寸

　　2.噴墨式打印機(jī)

　　彩色噴墨打印機(jī)

　　3、儀器附件及技術(shù)數(shù)據(jù)

　　50片測(cè)試膠片

　　五個(gè)保險(xiǎn)管

　　保修卡。

　　批準(zhǔn)證書

　　儀器操作手冊(cè)

　　輻射安全檢查報(bào)告

　　涂層厚度的測(cè)量方法主要有:楔形切割法、光切法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁性測(cè)量法和渦流測(cè)量法。這些方法的前五種都是破壞性檢測(cè)，比較繁瑣，速度慢，大多適合抽樣檢驗(yàn)。

　　Ux-720精密涂層分析儀X射線熒光光譜儀是專門為金屬合金、鋁型材、塑料等材料的涂層分析和達(dá)克羅涂層分析而設(shè)計(jì)的普及型機(jī)型，為三重射線保護(hù)系統(tǒng)。人性化的操作界面；華為VisualFp基本參數(shù)法分析軟件可用于盲測(cè)(即無(wú)需標(biāo)樣校準(zhǔn))，以測(cè)試客戶樣品的涂層厚度和分析基材成分，降低客戶購(gòu)買標(biāo)樣(特別是特殊樣品)的成本。精心設(shè)計(jì)的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復(fù)雜的工廠對(duì)涂布、鍍膜的過(guò)程控制。