Ux-720的性能優(yōu)勢

　　1.VisualFp基本參數(shù)分析軟件可以測試樣品的涂層厚度，無需標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)。

　　2.它不僅可以測試金屬涂層，還可以測量合金涂層、鋁合金涂層、玻璃涂層和塑料涂層，開創(chuàng)了XRF測量涂層厚度的綜合技術(shù)。

　　3.軟件可以根據(jù)樣品的材質(zhì)、形狀、大小自動(dòng)設(shè)置光管的功率，不僅可以延長光管的使用壽命，還可以充分發(fā)揮探測器的性能，大大提高測量精度。

　　4.業(yè)界提供了一個(gè)開放的工作曲線校準(zhǔn)平臺，可以為每個(gè)用戶量身定制涂層分析的工作曲線。

　　5.三重射線防護(hù)(軟件、硬件、迷宮設(shè)計(jì))，確保操作人員的人身安全和意外操作造成的輻射傷害。

　　6.微調(diào)儀器外部樣品的設(shè)計(jì)，以減少和防止樣品放置后關(guān)閉樣品蓋引起的振動(dòng)引起的測試位置變化而導(dǎo)致的測試不準(zhǔn)確。

　　7.測試報(bào)告的輸出格式(Excel、PDF等。)可根據(jù)用戶要求定制，符合工廠的各種統(tǒng)計(jì)和格式要求。

　　8.行業(yè)專家達(dá)克羅涂層工藝厚度分析的軟件方法，完全替代金相顯微鏡技術(shù)在該行業(yè)的應(yīng)用。

　　9.軟件對測試結(jié)果進(jìn)行多次統(tǒng)計(jì)分析。

　　10.行業(yè)專家不僅可以測試涂層厚度，還可以同時(shí)分析基底和涂層成分的XRF。

　　x射線和β射線法為非接觸式無損測量，測量范圍小。x射線法可以測量極薄的涂層、雙層涂層和合金涂層。β射線法適用于原子序數(shù)大于3的涂層和鍍層的測量。電容法僅在測量薄導(dǎo)體的絕緣涂層厚度時(shí)使用。

　　涂層厚度測量已成為加工工業(yè)和表面工程質(zhì)量檢驗(yàn)的重要組成部分，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)良質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中對涂層厚度有明確要求。

　　Ux-720高準(zhǔn)平臺

　　在加載試驗(yàn)平臺上，微調(diào)裝置在儀器的右側(cè)，通過旋轉(zhuǎn)按鈕來調(diào)整樣品的移動(dòng)，移動(dòng)范圍為X軸15 mm，Y軸15mm。結(jié)合260萬像素的高清CCD，對測試樣品進(jìn)行定位，防止樣品放置后關(guān)閉樣品蓋造成的震動(dòng)，使測試位置發(fā)生變化，測試不準(zhǔn)確。